+
  • 6(1741654944085).png
Коллекции
Контраст

Номер:

Система усталостной нагрузки серии SEFT-H в сочетании с электронным микроскопом для визуализации усталости при высоких и низких температурах

Розничная цена

Рыночная цена

Вес

Количество
-
+

Инвентаризация

Добавить в корзину
Купить сейчас

隐藏域元素占位

Система усталостной нагрузки серии SEFT-H в сочетании с электронным микроскопом для визуализации усталости при высоких и низких температурах

Входит в категорию:

Научно-исследовательское оборудование

Возвращает список
  • Подробное описание

Предыдущая страница

Изделия серии TXRD-DS в сочетании с лазерным конфокальным микроскопом для получения изображений при высокотемпературном растяжении и сжатии

Следующий

Нет.