+
  • 1-2(1741333881282).jpg
  • 1-1(1741333881254).jpg
Коллекции
Контраст

Номер:

Система загрузки на месте серии TXRD-DS

Розничная цена

Рыночная цена

Испытательная установка серии TXRD-DS представляет собой компактную испытательную систему, которую можно интегрировать в системы визуализации, такие как лазерные конфокальные микроскопы и просвечивающие рентгеновские дифрактометры, для проведения испытаний с высоким разрешением на месте, а также можно оснастить ее высокотемпературными и низкотемпературными модулями.
Он широко используется в аэрокосмической промышленности, геологии, судостроении, биомедицине, электронных устройствах и других областях. Проводить механические испытания и анализ горных пород, металлов, композитных материалов, керамики и других изделий, а также использовать системы микроскопической визуализации для изучения механизмов повреждения, таких как поведение при изменении фазы, изменение ориентации, возникновение трещин и распространение материалов под напряжением.

Вес

Количество
-
+

Инвентаризация

Добавить в корзину
Купить сейчас

隐藏域元素占位

Система загрузки на месте серии TXRD-DS

Испытательная установка серии TXRD-DS представляет собой компактную испытательную систему, которую можно интегрировать в системы визуализации, такие как лазерные конфокальные микроскопы и просвечивающие рентгеновские дифрактометры, для проведения испытаний с высоким разрешением на месте, а также можно оснастить ее высокотемпературными и низкотемпературными модулями.
Он широко используется в аэрокосмической промышленности, геологии, судостроении, биомедицине, электронных устройствах и других областях. Проводить механические испытания и анализ горных пород, металлов, композитных материалов, керамики и других изделий, а также использовать системы микроскопической визуализации для изучения механизмов повреждения, таких как поведение при изменении фазы, изменение ориентации, возникновение трещин и распространение материалов под напряжением.

Входит в категорию:

Лазерный конфокальный микроскоп, система загрузки просвечивающего рентгеновского дифрактометра

Возвращает список
  • Подробное описание

    Применение и технические параметры
    ● Максимальная сила: 5 кН;
    ● Точность силы: 0,5% от указанного значения или 0,1% полной шкалы;
    ● Температура: -150℃~1200℃;
    ● Точность контроля температуры: ±1℃;
    ● Смещение: 0-10 мм;
    ● Точность смещения: 0,1 мкм;
    ● Скорость испытания: 0,001-10 мм/мин.

     

    Серия TXRD-DS

    Применение под лазерным конфокальным микроскопом

    Применение просвечивающего рентгеновского дифрактометра

     

Предыдущая страница

Нет.

Следующий

Нет.