Сторонний испытательный центр
Розничная цена
Рыночная цена
Первый в стране высокопроизводительный томограф TESCAN UniTOM XL 230KCT оснащен модулем спектральной КТ, который действительно реализует быструю 4D-визуализацию облачного состояния на уровне синхротронного излучения и может выполнять контрастный анализ внутренних компонентов объекта в неразрушающих условиях.
Вес
Инвентаризация
隐藏域元素占位
Сторонний испытательный центр
Первый в стране высокопроизводительный томограф TESCAN UniTOM XL 230KCT оснащен модулем спектральной КТ, который действительно реализует быструю 4D-визуализацию облачного состояния на уровне синхротронного излучения и может выполнять контрастный анализ внутренних компонентов объекта в неразрушающих условиях.
Входит в категорию:
Сторонний испытательный центр
- Подробное описание
-
★Пространственное разрешение до 600 нм — усовершенствованный нанофокусный рентгеновский источник, прецизионный столик и высококачественные детекторы работают вместе, обеспечивая получение изображений с субмикронным разрешением.
★Выполняйте настоящую 4D-визуализацию с помощью динамической КТ — высокое временное разрешение, непрерывное и непрерывное сканирование и специализированные программные инструменты 4D, которые привносят в лабораторию возможности динамической 4D-визуализации, аналогичные возможностям синхротрона.
★Удобно для 3D-экспериментов in situ — непрерывное вращение и сканирование образца позволяет проводить непрерывные эксперименты in situ. Специальная конструкция интерфейса, исключающая спутывание, максимально упрощает экспериментальную настройку.
★Можно разместить образцы различных размеров — мощный источник излучения UniTOM HR (50 Вт), несколько вариантов детекторов (до 3) и столик с высокой грузоподъемностью (45 кг) позволяют размещать образцы размером 500 ммX700 мм (0xh).
★ Максимальное использование системы и высокая пропускная способность. Сочетание высокоскоростных детекторов изображений и высокопроизводительных источников рентгеновского излучения обеспечивает получение томографических изображений с высоким разрешением, что позволяет быстро сканировать образцы и увеличивать пропускную способность оборудования.
Предыдущая страница